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AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),光電器件車(chē)規(guī)級(jí)認(rèn)證

簡(jiǎn)要描述:車(chē)燈是整車(chē)的重要組件,圍繞車(chē)燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜,各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述,通用性較差。廣電計(jì)量提供一站式AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),光電器件車(chē)規(guī)級(jí)認(rèn)證服務(wù)。

  • 廠商性質(zhì):工程商
  • 更新時(shí)間:2024-11-06
  • 訪問(wèn)次數(shù):700

詳細(xì)介紹

服務(wù)區(qū)域全國(guó)服務(wù)周期2-3個(gè)月
服務(wù)資質(zhì)CMA/CNAS服務(wù)費(fèi)用視具體項(xiàng)目而定

服務(wù)背景

由福特、克萊斯勒、通用組成的汽車(chē)電子委員會(huì)(AEC)頒布了光電器件的可靠性標(biāo)準(zhǔn)AEC-Q102,對(duì)光電器件的可靠性展開(kāi)了嚴(yán)格的測(cè)試要求,為主機(jī)廠提供了可靠性高、使用壽命長(zhǎng)的光電器件。廣電計(jì)量AEC-Q技術(shù)團(tuán)隊(duì),執(zhí)行過(guò)大量的AEC-Q測(cè)試案例,積累了豐富的認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn),可為您提供更專(zhuān)業(yè)、更可靠的測(cè)試服務(wù),同時(shí)我們也提供LED、光電二極管、晶體管、激光器件的環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

車(chē)燈是整車(chē)的重要組件,圍繞車(chē)燈及其附件的可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)紛繁復(fù)雜,各主機(jī)廠的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)均有不同描述,通用性較差。廣電計(jì)量提供一站式AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),光電器件車(chē)規(guī)級(jí)認(rèn)證服務(wù)。
測(cè)試周期
2-3個(gè)月,提供全面的認(rèn)證計(jì)劃、測(cè)試等服務(wù)
產(chǎn)品范圍
AEC-Q102產(chǎn)品試驗(yàn),光電器件車(chē)規(guī)級(jí)認(rèn)證服務(wù)產(chǎn)品范圍LED燈珠、光電二極管、光電晶體管、激光組件
測(cè)試項(xiàng)目
序號(hào) 測(cè)試項(xiàng)目 縮寫(xiě) 樣品數(shù)/批 批數(shù) 測(cè)試方法
1 Pre- and Post-Stress Electrical and Photometric Test TEST 所有應(yīng)力試驗(yàn)前后均進(jìn)行測(cè)試 用戶規(guī)范
2 Pre-conditioning PC SMD產(chǎn)品在WHTOL、TC、PTC試驗(yàn)前預(yù)處理 JESD22-A113
3 External Visual EV 每項(xiàng)試驗(yàn)前后均進(jìn)行測(cè)試,除DPA和尺寸測(cè)試 JESD22-B101
4 Parametric Verification PV 25 3 Note A 用戶規(guī)范
5a High Temperature Operating Life HTOL1 26 3 Note B JESD22-A108
5b High Temperature Operating Life HTOL2 26 3 Note B JESD22-A108
5c High Temperature Reverse Bias HTRB 26 3 Note B JESD22-A108
6a Wet High Temperature Operating Life WHTOL1 26 3 Note B JESD22-A101
6b Wet High Temperature Operating Life WHTOL2 26 3 Note B JESD22-A101
6c High Humidity High Temperature Reverse Bias H3TRB 26 3 Note B JESD22-A101
7 Temperature Cycling TC 26 3 Note B JESD22-A104
8a Power Temperature Cycling PTC 26 3 Note B JESD22-A105
8b Intermittent Operational Life IOL 26 3 Note B MIL-STD-750-1 Method 1037
9 Low Temperature Operating Life LTOL 26 3 Note B JESD22-A108
10a Electrostatic Discharge Human Body Model HBM 10 3 JS-001
10b Electrostatic Discharge Charged Device Model CDM 10 3 AEC Q101-005
11 Destructive Physical Analysis DPA 2/試驗(yàn) 1 Appendix 6
12 Physical Dimension PD 10 3 JESD22-B100
13 Terminal Strength TS 10 3 MIL-STD-750-2 Method 2036
14 Constant Acceleration CA 10 3 MIL-STD-750-2 Method 2006
15 Vibration Variable Frequency VVF JEDEC JESD22-B103
16 Mechanical Shock MS JEDEC JESD22-B104
17 Hermeticity HER JESD22-A109
18a Resistance to Solder Heat RSH (-reflow) 10 3 含鉛:JESD22-A113、J-STD-020
無(wú)鉛:AEC-Q005
18b Resistance to Solder Heat RSH (-wave) 10 3 含鉛:JESD22-B106
無(wú)鉛:AEC-Q005
19 Solderability SD 10 3 含鉛:J-STD-002、JESD22-B102
無(wú)鉛:AEC-Q005
20 Pulsed Operating Life PLT 26 3 JESD22-A108
21 Dew DEW 26 3 JESD22-A100
22 Hydrogen Sulphide H2S 26 3 IEC 60068-2-43
23 Flowing Mixed Gas FMG 26 3 IEC 60068-2-60 Test method 4
24 Thermal Resistance TR 10 1 JESD51-50、JESD51-51、JESD51-52
25 Wire Bond Pull WBP 10 3 MIL-STD-750-2 Method 2037
26 Wire Bond Shear WBS 10 3 AEC Q101-003
27 Die Shear DS 5 3 MIL-STD-750-2 Method 2017
28 Whister Growth WG / / AEC Q005

 

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