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技術(shù)分享|電磁兼容實(shí)驗(yàn)場(chǎng)地有哪些?

更新時(shí)間:2024-05-29  |  點(diǎn)擊率:590
  電磁兼容的各個(gè)測(cè)試項(xiàng)目都要求有特定的測(cè)試場(chǎng)地。其中以輻射發(fā)射和輻射抗擾度測(cè)試對(duì)場(chǎng)地的要求最為嚴(yán)格。由于30---1000MHZ高頻電磁場(chǎng)的發(fā)射與接收是以空間直射波與地面反射波在接受點(diǎn)相互疊加的理論為基礎(chǔ)的。場(chǎng)地不理想,必然帶來(lái)較大的測(cè)試誤差。
 
  開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)
 
  它是一個(gè)平坦的、空曠的、電導(dǎo)率均勻良好的、無(wú)任何反射物的橢圓形實(shí)驗(yàn)場(chǎng)地。在眾多電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)中,對(duì)電子設(shè)備輻射感擾的測(cè)試及對(duì)開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)的校驗(yàn),均在3m法、10m法、30m法情況下進(jìn)行。橢圓形開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)尺寸的大小與所要滿足的實(shí)驗(yàn)有關(guān)。用于場(chǎng)強(qiáng)的試驗(yàn)場(chǎng),推薦用金屬材料建造。開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)宜選址電磁環(huán)境干凈、本底電平低的地方建造,以免周?chē)h(huán)境中的電磁干擾給EMC實(shí)驗(yàn)帶來(lái)影響和危害。實(shí)驗(yàn)場(chǎng)應(yīng)設(shè)有轉(zhuǎn)臺(tái)及天線升降桿,便于輻射發(fā)射及天線升降測(cè)試。此外還應(yīng)有單獨(dú)的接地系統(tǒng)和避雷系統(tǒng)。通常是單點(diǎn)接地。地線系統(tǒng)和避雷系統(tǒng)應(yīng)是隔開(kāi)的。
 
  理想的開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)是在自由空間內(nèi)放置一個(gè)平直的、無(wú)限延伸的金屬導(dǎo)電平面形成的半自由空間。
 
  開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng)地建成后,必需進(jìn)行歸一化場(chǎng)地衰減的測(cè)試,并在以后的長(zhǎng)期使用過(guò)程中還要進(jìn)行定期檢測(cè),確認(rèn)含設(shè)備在內(nèi)的場(chǎng)地高頻特性的適用性。
 
  測(cè)試歸一化場(chǎng)地衰減(NSA)的方法有兩種:一種是離散頻率法,即使用調(diào)諧偶極子天線,針對(duì)所需頻率調(diào)整其長(zhǎng)度進(jìn)行測(cè)量的方法。另一種是掃描頻率法,用寬帶天線進(jìn)行掃頻測(cè)量。
 
  屏蔽室
 
  為了使工作間內(nèi)的電磁場(chǎng)不泄漏到外部或外部電磁場(chǎng)不透入到工作間內(nèi),此種專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的能對(duì)射頻電磁能量起衰減作用的封閉室稱(chēng)為屏蔽室。屏蔽室是一個(gè)用金屬材料制成的大型六面體房間。
 
  按功能分為兩類(lèi):一類(lèi)是有源屏蔽(也叫主動(dòng)屏蔽)特點(diǎn)是場(chǎng)源和泄漏源在屏蔽室內(nèi)。另一類(lèi)是無(wú)源屏蔽(也叫被動(dòng)屏蔽)特點(diǎn)是場(chǎng)源和泄漏源在屏蔽室外。
 
  屏蔽是利用屏蔽體阻止或減少電磁能量傳輸?shù)囊环N措施。屏蔽體則是為阻止或減少電磁能量傳輸而對(duì)裝置進(jìn)行封閉或遮蔽的一種阻擋層。屏蔽體的屏蔽性能以屏蔽效能來(lái)進(jìn)行考量。
 
  從安全角度考慮,屏蔽室都應(yīng)接地。
 
  電波暗室
 
  又稱(chēng)電波消聲室或電波無(wú)反射室。它有兩種結(jié)構(gòu)形式:電磁屏蔽半波暗室和微波電波暗室。電磁屏蔽半波暗室主要模擬開(kāi)闊實(shí)驗(yàn)場(chǎng),微波電波暗室模擬自由空間傳播環(huán)境,而且可以不帶屏蔽。
 
  橫電磁波室
 
  TEM小室又稱(chēng)橫電磁波室,是由兩端為喇叭狀逐漸收縮的外導(dǎo)體和中間為帶狀隔板的內(nèi)導(dǎo)體構(gòu)成的特殊矩形截面?zhèn)鬏斁€。在直流到200MHz頻率范圍內(nèi),橫電磁波室主要用于對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)和射頻電磁場(chǎng)發(fā)射測(cè)量。
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